Jun Young Kim

1. AN, Kunsik, MOON, Yoon Jae, KIM, Jun Young, NDIKUMANA, Joel, KANG, Kyung-Tae. Effect of the nitrogen environment on indium gallium zinc oxide thin film transistors with low temperature ultraviolet annealing = Vpliv dušikovega okolja na tankoplastne tranzistorje iz indij-galij-cinkovega oksida z nizkotemperaturnim ultravijoličnim žarjenjem. Informacije MIDEM : časopis za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale. [Tiskana izd.]. 2025, vol. 55, no. 3, str. 193-198, ilustr. ISSN 0352-9045. https://ojs.midem-drustvo.si/index.php/InfMIDEM/article/view/2206, DiRROS - Digitalni repozitorij raziskovalnih organizacij Slovenije, http://www.dlib.si/details/URN:NBN:SI:doc-OJAAQNVL, DOI: 10.33180/InfMIDEM2025.306. [COBISS.SI-ID 281497859]