1.
JANKOVEC, Marko, KRČ, Janez, SMOLE, Franc, TOPIČ, Marko. Examination of optical properties
in a-SiC:H ultraviolet detectors. In: HROVAT, Marko (ed.), KOSEC, Marija (ed.), ŠORLI,
Iztok (ed.).
Proceedings. 36th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials and the
Workshop on Analytical Methods in Microelectronics and Electronic Materials, October
18. - 20. 2000, Postojna, Slovenia. Ljubljana: MIDEM - Society for Microelectronics,
Electronic Components and Materials, 2000. Str. 247-252, graf. prikazi. ISBN 961-90001-8-8.
[COBISS.SI-ID
2033748]
2.
JANKOVEC, Marko, GORUP, Žarko. Merjenje fizikalnih količin z instrumentom za zajemanje
podatkov s posebnimi časovnimi in programskimi pogoji. In: ZAJC, Baldomir (ed.).
Zbornik sedme Elektrotehniške in računalniške konference ERK '98, 24. - 26. september
1998, Portorož, Slovenija. Ljubljana: IEEE Region 8, Slovenska sekcija IEEE, 1998. Zv. a, str. 535-538, graf.
prikazi. ISBN 961-6062-14-X, ISBN 961-6062-15-8. [COBISS.SI-ID
1482836]